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      著眼產品質量改善,英飛凌在日設立車載半導體分析實驗室

      更新時間: 2006-08-01 08:54:38來源: 粵嵌教育瀏覽量:629

          英飛凌科技在日本東京總部設立了分析實驗室。該公司的母公司德國英飛凌科技一直在包括日本英飛凌科技等在內的全球范圍內,就車載半導體產品實施以“零缺陷(零次品)”為目標的質量改善項目“Automotive Excellence”。由于日本市場的客戶對質量標準的要求非常高,因此要求采取進一步的支持措施來強化質量。日本英飛凌在日本車載半導體市場上的份額2005年為2.8%,位居第6位,2004年為2.5%,位居第8位。  

          對于此次新設立的分析實驗室,該公司表示:“這是為在日本市場上實現完善的質量支持體制邁出的重要一步。”除配備的超聲波檢測顯微鏡、微焦X射線透視裝置及IC測試儀等設備外,還將大幅增加質量管理人員。通過這些措施,便可縮短原來在德國總部實施的缺陷分析及原因調查所需要的時間,在發生問題時對客戶迅速提供支持。  

          具體來說,將力爭在2006年9月之前建立可在24小時內對客戶給予答復,并在10天遞交終報告的體制。此前一直是將客戶以“懷疑存在質量問題”為由退回的半導宀?匪偷降鹿?懿浚?詰鹿??腥畢莘治觥R虼誦枰?0天左右的時間才能向客戶提交終報告。人員方面,預定本年度增至19人,2009年達到25人以上。另外還將擴充分析裝置,在2007年導入掃描式電子顯示鏡。檢測內容為:基于超聲波的IC封裝內部檢測、基于X射線的IC封裝內部構造檢測,以及泄漏電流等DC特性及AC特性等電氣特性的檢測。  

          分析實驗室可評測的項目包括因靜電破壞及過電壓破壞導致的電氣性損壞,以及產生裂紋及半導體芯片剝落等機械性應力導致的損壞等引起的缺陷。對于稱為前工序的半導體加工工序導致的芯片內部缺陷,分析實驗室則無法查出原因,因此將送到德國進行評測。據日本英飛凌科技介紹,在客戶以“懷疑存在缺陷”為由退回的產品中,從缺陷原因來看,約有30~40%由靜電破壞及過電壓破壞導致、約有10%由機械應力導致,其中約有20%無法確認。如果加上這一部分,此次的分析實驗室便可對70~75%的產品進行有無缺陷的判斷以及缺陷部位的確認。  

          在該公司銷售的車載半導體中,可由分析實驗室進行評測的品種比例預計到2006年9月將達到23%。由于準備IC測試儀的分析軟件需要時間,因此將從客戶退回較多的品種開始入手,階段性地提高可評測品種的比例。該公司預定在9月份以后擴充穩壓器IC、功率MOSFET及發動機橋接IC等的分析軟件,計劃在2007年9月將可評測品種的比例提高到45%。今后還將力爭達到能夠對微控制器及傳感器等端子數量較多的LSI以及復雜的IC等進行評測的水平,到2008年9月將可評測品種的比例提高到60%。在此次設立實驗室的約1年半前,英飛凌科技已在美國設立了同樣的分析實驗室。  

          據英飛凌科技介紹,從2003年開始實施的質量改善項目已經獲得了成效。面向車載用途及產業設備的半導體,其缺陷率相對于2003年平均為0.19ppm,2005年下降到了0.053ppm,接近2003年的1/4,預計2006年將進一步減至0.04ppm。目前,在該公司面向車載用途及產業設備的所有品種中,已有60%達到了零缺陷,有96%實現了不到1ppm的缺陷發生率。缺陷發生率超過1ppm的品種主要是新產品及電路復雜的產品。

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