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      聯電攜手EDA初創,共解統計時序分析難題

      更新時間: 2006-07-28 21:09:05來源: 粵嵌教育瀏覽量:471

      臺灣地區晶圓代工廠商聯電和電子設計自動化(EDA)初創公司Extreme DA Corp.日前表示,雙方已簽署合作協議,開發適合小于90納米的工藝的變更識別IC設計流程系統級芯片(SoC)。

      此流程致力于解決可制造設計(DFM)方面的一些問題,例如時序與耗電量變更的預測及化等,以達到降低設計上的不確定性并加快進入量產的速度。這項流程是以Extreme DA公司的XT驗收工具為基礎,目前已試用在聯華電子90納米工藝的測試芯片上。

      目前雙方的合作重點在于65納米設計流程的開發,包括:為收集特定制程變更數據的測試結構設計;前端與后端制程中各種變更數據的提取,包括:純粹隨機、空間關聯隨機、晶方對晶方隨機、以及系統性變更數據的提取;XT統計時序預估之結果與實際硅晶量測的比對驗證。使用XT統計提取與時序工具,將使雙方的客戶能在聯華電子已獲驗證的65納米工藝上,使用這項獨特的、具變更識別能力的驗收功能。

      Extreme DA的首席執行官Mustafa Celik表示,該公司目前正在與多家對統計時序分析感興趣的無廠公司進行討論,而統計時序需要來自晶圓代工廠商的工藝數據。

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