近日，Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司宣布，憑借其的數(shù)據(jù)壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴(kuò)展在測試和成品率診斷領(lǐng)域的技術(shù)先導(dǎo)地位。新版Cadence Encounter Test通過為非專有的片上異或(XOR)測試數(shù)據(jù)壓縮結(jié)構(gòu)提供更廣泛的支持，解決在制造高品質(zhì)硅芯片過程中的費(fèi)用上漲問題。此新型數(shù)據(jù)壓縮性能增強(qiáng)了自動(dòng)化測試矢量生成(ATPG)和診斷產(chǎn)品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。

       這種新型測試功能在輸入端采用了基于XOR發(fā)散網(wǎng)絡(luò)扇出的解壓縮技術(shù)，而在輸出端則使用帶有可選的不定態(tài)屏蔽功能的XOR樹狀壓縮技術(shù)。